Out For Tender

Out For Tender › Suisse › Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)

Microscope électronique à balayage pour l'imagerie et l'analyse quantitative d'échantillons géologiques

Acheteur
ETH Zürich - Abt. Procurement & Export Services
Pays
Suisse
Catégorie
Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
Date limite
Clôture le 28 Oct 2026 (28 Oct 2026 12:00 UTC+1)
Publié le
21 Sep 2026
Procédure
Open
Code CPV
38511000

Lire l'avis officiel et soumissionner → La soumission se fait toujours sur le portail de l'acheteur, jamais ici.

Ce que l'acheteur demande

The Institute of Geochemistry and Petrology at ETH Zürich is seeking to upgrade its existing analytical scanning electron microscope (SEM) for a new SEM equipped with a field emission gun, secondary electrons detector (SE) and high-performance backscattered electron detectors (BSE), and a state-of-the-art large area (≥ 100 mm2) energy dispersive spectrometer (EDS). Among several options, we welcome offers for panchromatic and/or entry-level monochromatic cathodoluminescence detector. The main goal of this instrument will be to provide precise and accurate quantitative analyses by EDS using a rigorous quantification protocol that includes the use of reference materials and a full matrix correction (ZAF, phi-rho-z, or equivalent). The instrument should have a large chamber to allow a minimum of 3 petrographic thin sections and 6 one-inch epoxy round mounts. It should be programmable so that we run series of >24 hours of automated quantitative EDS analyses. For further details, please refer to the specifications.

Langue de cet avis : English. Le titre et la description sont affichés tels que publiés par l'acheteur.

Cet appel d'offres dans d'autres langues

  • BG Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • CS Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • DA Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • DE Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • EL Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • EN Scanning electron microscope for imaging and quantitative analysis in geological samples
  • ES Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • ET Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • FI Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • GA Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • HR Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • HU Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • IT Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • LT Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • LV Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • MT Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • NL Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • PL Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • PT Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • RO Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • SK Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • SL Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben
  • SV Rasterelektronenmikroskop zur Bildgebung und quantitativen Analyse an geologischen Proben

Source: TED · reference 648582-2026 · JSON