Out For Tender › Germania › Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri)
Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
- Stazione appaltante
- IHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Paese
- Germania
- Categoria
- Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri)
- Scadenza
- Scade tra 28 giorni (29 Oct 2026 12:00 UTC+1)
- Pubblicata
- 29 Sep 2026
- Procedura
- Open
- Codice CPV
- 38540000
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Che cosa richiede la stazione appaltante
The subject of the procurement is the supply, installation and commissioning of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and high-frequency characterization of 200-mm wafers for research and laboratory use at IHP. The system shall include, among other components, a 200-mm wafer prober with vacuum chuck and precision positioning, individual probes, multi-contact probes for RF measurements up to at least 6 GHz, a probe card system, automated microscopy and camera equipment, as well as control and software components. The scope of supply also includes transport, installation, commissioning, training, documentation, warranty and spare-parts supply.
Lingua di questo bando: Deutsch. Titolo e descrizione sono mostrati esattamente come pubblicati dalla stazione appaltante.
Source: TED · reference 670077-2026 · JSON