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Out For Tender › Allemagne › Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)

Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers

Acheteur
IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Pays
Allemagne
Catégorie
Équipements de laboratoire, d'optique et de précision (excepté les lunettes)
Date limite
Clôture dans 18 jours (13 Oct 2026 12:00 UTC+2)
Publié le
14 Sep 2026
Procédure
Open
Code CPV
38540000

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Ce que l'acheteur demande

Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.

Langue de cet avis : Deutsch. Le titre et la description sont affichés tels que publiés par l'acheteur.

Source: TED · reference 631856-2026 · JSON