Out For Tender › Germania › Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri)
Semi-automatic prober for characterization of 200 mm wafers
- Stazione appaltante
- IHP GmbH - Leibniz-Institut für innovative Mikroelektronik
- Paese
- Germania
- Categoria
- Attrezzature da laboratorio, ottiche e di precisione (escluso vetri)
- Scadenza
- Scade tra 18 giorni (13 Oct 2026 12:00 UTC+2)
- Pubblicata
- 14 Sep 2026
- Procedura
- Open
- Codice CPV
- 38540000
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Che cosa richiede la stazione appaltante
Supply, delivery, installation, commissioning and integration of a semi-automatic wafer prober system for the electrical and temperature-dependent characterization of 200 mm wafers. The system shall support DC and pulsed I-V as well as low-frequency impedance measurements up to 10 MHz and shall be integrated with the existing Keithley 4200A-SCS characterization system. The scope includes the prober, temperature-controlled chuck, electrical probes, optical and camera systems, control hardware and software, cabling and interfaces, installation, commissioning, operator training and integration support.
Lingua di questo bando: Deutsch. Titolo e descrizione sono mostrati esattamente come pubblicati dalla stazione appaltante.
Source: TED · reference 631856-2026 · JSON